зеркало 1 падает луч света 2 и отражает­ся на шкалу прибора 3. Если зеркало наклонить на угол а, то отраженный луч сместится по шкале на ве­личину I, пропорциональную расстоянию L шкалы от зеркала: I = 2aL. Механический рычаг связывает из­мерительный стержень прибора с поворачивающимся зеркалом. Оптическая система — совокупность опти­ческих узлов и деталей (линзы, призмы, зеркала, объ­ективы, окуляр и т. д.), преобразует малые повороты зеркала в удобные для отсчета перемещения светового потока с изображением указателя по шкале при­бора.

По положению линии измерения оптиметры делят на вертикальные (0В) и горизонтальные (ОГ), а по способу отсчета показаний—на окулярные (ОВО, ОГО) и экранные (ОВЭ, ОГЭ).

Основные характеристики оптиметров по ГОСТ 5405—75

5) Линейки поверочные изготовляются следующих типов: ЛД — лекальные с двухсторонним скосом (рис. 7, а); ЛТ—лекальные трехгранные (рис. 7,6); ЛЧ—лекальные четырехгранные (рис. 7, в); ШП — с широкой рабочей поверхностью прямоугольного сечения (рис. 7, г); ШД—с широ­кой рабочей поверхностью двухтаврового сечения (рис. 7,и); ШМ—с широкой рабочей поверхно­стью, мостики (рис. 7, е); УТ—угловые трехгран­ные (рис. 7, ж).

Лекальные линейки выпускаются двух классов точ­ности: 0 и 1. Лекальные линейки предназначены для контроля прямолинейности. Лезвие ли­нейки накладывают на поверхность изделия .Сзади, на уровне глаз контролера, по­мещают источник света и наблюдают просвет между линейкой и изделием. Размер просвета определяют по «образцу просвета» При хорошей освещенности и определен­ном навыке просвет размером 3—5 мкм можно оце­нить с погрешностью ±1 мкм. Непрямолинейность равна наибольшему просвету hmax (рис.8,а) .Линейки с широкой рабочей поверхностью приме­няют для поверки прямолинейности и для поверки плоскостности узких поверхностей Размеры l X Ь линеек различных типов имеют следующие зна­чения: для линеек типа ШП 205Х5—630Х10 мм;

линеек типа ШД 630Х4—4000 X 30 мм; линеек типа ШМ 400 X 50 — 3000 X 110 мм. Линейки выпускаются трех классов точности: 0, 1 и 2. При контроле прямолинейности методом «линейных отклонений» рис.8, б линейку 1 укладывают рабочей поверхностью на две одинаковые концевые меры 3 размером b0, установленные на проверяемой поверхности 2. Для уменьшения погрешностей изме­рений из-за прогибов линейки опоры располагают в точках наименьшего прогиба (точки Эри), которые отмечены рисками на боковой поверхности линеек, Точки Эри лежат на расстоянии 0,233l от концов линейки. На боковой поверхности линейки наносят мелом отметки на расстояниях, равных 0,1l. В отмечен­ных точках 0, 1, 2, ., 10 измеряют расстояние Ьi, между поверхностями линейки и изделия, вводя ме­жду ними блоки концевых мер или щупы 4. По ре­зультатам измерений, определяют разность hi=(bо — bi). Построив график, как показано на рис. 8, в через точки h0 и hi проводят прямую ли­нию ОА. Отклонение от плоскостности поверхности hmax находят как расстояние от линии ОА до наиболее удаленной точки профиля.

Решения об отнесении технического устройства к средствам измерений и об становлении интервалов между поверками принимает Госстандарт России. Измерения должны осуществляться в соответствии с аттестованными в установленном порядке методиками. Порядок разработки и аттестации методик выполнения измерений определяется Госстандартом России. Конкретные методы измерений определяются видом измеряемых величин, их размерами, требуемой точностью результата, быстротой процесса измерения, условиями, при которых проводятся измерения, и рядом других признаков.

Каждую физическую величину можно измерить несколькими методами, которые могут отличаться друг от друга особенностями как технического, так и методического характера. В отношении технических особенностей можно сказать, что существует множество методов измерения, и по мере развития науки и техники, число их все увеличивается. С методической стороны все методы измерений поддаются систематизации и обобщению по общим характерным признакам. Рассмотрение и изучение этих признаков помогает не только правильному выбору метода и его сопоставлению с другими, но и существенно облегчает разработку новых методов измерения.

Для прямых измерений можно выделить несколько основных методов: метод непосредственной оценки, дифференциальный метод, нулевой метод и метод совпадений.